概要 薄膜や粉末の試料に電子線をあて、透 …
FE-SEM (MC014)
電界放出形走査電子顕微鏡FE-SEM ( …
TEM (MC-016)
概要 薄膜や粉末の試料に電子線をあて、透 …
FE-SEM (MC-012)
概要 物質の表面に細く絞った電子線を照射 …
FIB-SEM
概要 ショットキー形SEMとHigh P …
FE-EPMA
概要 細く絞った電子線を試 …
Just another WordPress site
概要 薄膜や粉末の試料に電子線をあて、透 …
電界放出形走査電子顕微鏡FE-SEM ( …
概要 薄膜や粉末の試料に電子線をあて、透 …
概要 物質の表面に細く絞った電子線を照射 …
概要 ショットキー形SEMとHigh P …
概要 細く絞った電子線を試 …