概要
試料にX線を照射し、そこから発生する蛍光X線を検出することで元素分析を行う装置。
試料の前処理なしに非破壊で分析することが可能。分析試料は固体・液体・粉体など様々な形状に対応できる。
仕様
- 装置名：日本電子(株)製 JSX3100R Ⅱ
- 検出元素範囲：Na〜U
- X線発生装置：5〜50kV, 1mA, 50W
- ターゲット：Rh
- コリメータ：1mmφ, 3mmφ, 7mmφ
- 試料室サイズ：直径 300mm×150mm(H)
- 試料室雰囲気：大気／真空
- 試料観察機構：カラーCCDカメラ
場所
材料化学棟2階 MC-211
動画
[XRF 利用マニュアル動画/ User’s manual movie of XRF] https://youtu.be/PWskKPqgAto
[XRF 樹脂製試料ホルダーのセット方法/ how to set sample holders made of resin] https://youtu.be/RQbgp1W_zF0