研究設備一覧 / Equipments

電子顕微鏡装置 (Analysys Equipments)

名称 FE-SEM (ショットキー電界放出形電子顕微鏡) メーカー名 日本電子 型番 JSM-6500F 場所 MC-012 GFC_装置番号 AP100234 / AP200034

名称 FE-SEM (ショットキー電界放出形電子顕微鏡) メーカー名 日本電子 型番 JSM-7200F 場所 MC-014 GFC_装置番号 AP-200091

名称 FE-EPMA (フィールドエミッション電子プローブマイクロアナライザ) メーカー名 日本電子 型番 JXA-8530F 場所 MC-211 GFC_装置番号 AP100245 / AP200045

名称 FIB-SEM (複合ビーム加工観察装置) メーカー名 日本電子 型番 JIB-4601F 場所 MC-210 GFC_装置番号 AP100246 / AP200046

名称 TEM (透過型電子顕微鏡) メーカー名 日本電子 型番 JEM-2010 場所 MC-016 GFC_装置番号 AP100244 / AP200043

名称 TEM (透過型電子顕微鏡) メーカー名 日本電子 型番 JEM-2010 場所 MC-113 GFC_装置番号 AP100268

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分析装置 (Analysys Equipments)

名称 XRF (蛍光X線分析装置) メーカー名 日本電子 型番 JSX-3100R 場所 MC-211 GFC_装置番号 AP100269

名称 粒子径分布測定装置 メーカー名 マイクロトラックベル 型番 MT-3300EX Ⅱ 場所 MC-211 GFC_装置番号 AP100267

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イオンミリング装置 (Ion Milling Equipments)

名称 クロスセクションポリッシャ メーカー名 日本電子 型番 SM-09010 場所 MC-012 GFC_装置番号 AP100270

名称 イオンスライサー メーカー名 日本電子 型番 EM-09100IS 場所 MC-113 GFC_装置番号 AP100271

名称 ジェントルミル メーカー名 TECHNOORG – LINDA Ltd. Co. 型番 IV-8 場所 MC-113 GFC_装置番号 AP100295

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前後処理装置 (Processing Equipments)

名称 熱間樹脂包埋装置 メーカー名 丸本ストルアス 型番 場所 MC-020

名称 真空蒸着装置 メーカー名 日本電子 型番 JEE-400 場所 MC-020

名称 イオンスパッタ装置 メーカー名 日本電子 型番 JFC-1100E 場所 MC-020

名称 小型精密切断機 メーカー名 MARUTO 型番 MC-501 場所 MC-020

名称 鏡面研磨機 メーカー名 MARUTO 型番 場所 MC-020

名称 ピックアップシステム メーカー名 MicroSupport 型番 場所 MC-211

名称 ピックアップシステム (大気非暴露) メーカー名 MicroSupport 型番 場所 MC-020

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その他 (Others)

名称 データ解析用PC (EPMA, EBSD, 3D-image) メーカー名 DELL 型番 XPS 8930 場所 MC-211