研究設備一覧 / Equipments

電子顕微鏡装置 (Analysys Equipments)

ショットキー電界放出形電子顕微鏡 / FE-SEM メーカー名 日本電子 型番 JSM-6500F 場所 MC-012 GFC_装置番号 AP100234 / AP200034

ショットキー電界放出形電子顕微鏡 / FE-SEM メーカー名 日本電子 型番 JSM-7200F 場所 MC-014 GFC_装置番号 AP-100294

フィールドエミッション電子プローブマイクロアナライザ / FE-EPMA メーカー名 日本電子 型番 JXA-8530F 場所 MC-211 GFC_装置番号 AP100245 / AP200046

複合ビーム加工観察装置 / FIB-SEM メーカー名 日本電子 型番 JIB-4601F 場所 MC-310 GFC_装置番号 AP100246 / AP200046

透過型電子顕微鏡 / TEM メーカー名 日本電子 型番 JEM-2010 場所 MC-016 GFC_装置番号 AP100244 / AP200043

透過型電子顕微鏡 / TEM メーカー名 日本電子 型番 JEM-2010 場所 MC-113 GFC_装置番号 AP100268

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分析装置 (Analysys Equipments)

蛍光X線分析装置 / XRF メーカー名 日本電子 型番 JSX-3100R 場所 MC-211 GFC_装置番号 AP100269

粒子径分布測定装置 メーカー名 マイクロトラックベル 型番 MT-3300EX Ⅱ 場所 MC-211 GFC_装置番号 AP100267

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イオンミリング (Ion Milling Equipments)

クロスセクションポリッシャ/ Cross Section Polisher メーカー名 日本電子 型番 SM-09010 場所 MC-012 GFC_装置番号 AP100270

イオンスライサー / Ion Slicer メーカー名 日本電子 型番 EM-09100IS 場所 MC-113 GFC_装置番号 AP100271

ジェントルミル / Gentle Mill メーカー名 TECHNOORG – LINDA Ltd. Co. 型番 IV-8 場所 MC-113 GFC_装置番号 AP100295

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前後処理装置 (Processing Equipments)

熱間樹脂包埋装置/ Hot Mounting Press メーカー名 丸本ストルアス 型番 場所 MC-020

真空蒸着装置 / Vaccum Deposition Equipment メーカー名 日本電子 型番 JEE-400 場所 MC-020

イオンスパッタ装置 / Ion Sputtering Equipment メーカー名 日本電子 型番 JFC-1100E 場所 MC-020

小型精密切断機 / Small Cutter メーカー名 MARUTO 型番 MC-501 場所 MC-020

鏡面研磨機 メーカー名 MARUTO 型番 場所 MC-020

Pick Up System メーカー名 MicroSupport 型番 場所 MC-211

Pick Up System（大気非暴露） メーカー名 MicroSupport 型番 場所 MC-020

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その他 (Others)

データ解析用PC (EPMA, EBSD, 3D-image) メーカー名 型番 場所 MC-211