電子顕微鏡装置 (Analysys Equipments) 名称 FE-SEM (ショットキー電界放出形電子顕微鏡) メーカー名 日本電子 型番 JSM-6500F 場所 MC-012 GFC_装置番号 AP-100243 / AP-200034 名称 FE-SEM (ショットキー電界放出形電子顕微鏡) メーカー名 日本電子 型番 JSM-7200F 場所 MC-014 GFC_装置番号 AP-100294 / AP-200091 名称 FE-EPMA (フィールドエミッション電子プローブマイクロアナライザ) メーカー名 日本電子 型番 JXA-8530F 場所 MC-211 GFC_装置番号 AP-100245 / AP-200045 名称 FIB-SEM (複合ビーム加工観察装置) メーカー名 日本電子 型番 JIB-4601F 場所 MC-210 GFC_装置番号 AP-100246 / AP-200046 名称 TEM (透過型電子顕微鏡) メーカー名 日本電子 型番 JEM-2010 場所 MC-016 GFC_装置番号 AP-100244 / AP-200043 名称 TEM (透過型電子顕微鏡) メーカー名 日本電子 型番 JEM-2010 場所 MC-113 GFC_装置番号 AP-100268 イオンミリング装置 (Ion Milling Equipments) 名称 クロスセクションポリッシャ メーカー名 日本電子 型番 SM-09010 場所 MC-012 GFC_装置番号 AP-100270 名称 ジェントルミル メーカー名 TECHNOORG – LINDA Ltd. Co. 型番 IV-8 場所 MC-113 GFC_装置番号 AP-100295 前後処理装置 (Processing Equipments) 名称 熱間樹脂包埋装置 メーカー名 丸本ストルアス 型番 場所 MC-020 名称 真空蒸着装置 メーカー名 日本電子 型番 JEE-400 場所 MC-020 名称 イオンスパッタ装置 メーカー名 日本電子 型番 JFC-1100E 場所 MC-020 名称 小型精密切断機 メーカー名 MARUTO 型番 MC-501 場所 MC-020 名称 鏡面研磨機 メーカー名 MARUTO 型番 場所 MC-020 名称 ピックアップシステム メーカー名 MicroSupport 型番 場所 MC-211 その他 (Others) 名称 データ解析用PC (EPMA, EBSD, 3D-image) メーカー名 DELL 型番 XPS 8930 場所 MC-211
