電界放出形走査電子顕微鏡FE-SEM (JEOL JSM-7200F)が導入されました。
〇主な機能
・インレンズFE-SEMによる高倍率で分解能の高い画像の取得
・反射電子像（組成像と立体像）の観察
・高速 EDS（点/線/面/マッピング）分析
※試料ホルダーは旧型(6500F)と同様12.5mm/32mmの2種類が使用可能
〇ご利用料金
・学内利用2,100円/1h
・学内委託10,100円/1h
〇場所
材料化学実験棟1階MC014
〇装置のご予約に関するお問い合わせ
・E-mail : info-nma[at]eng.hokudai.ac.jp
・TEL: 011-706-6363
ナノ・マイクロマテリアル分析研究室MC212
＊一般開放のルールを策定中のため、初回のご利用は事前にメール・電話でご連絡をお願い致します。
＊研究室内における講習のルールも他の装置と同様です。