研究設備一覧

装置紹介

電子顕微鏡装置群 (Analysys Equipments)

ショットキー電界放出形電子顕微鏡 / FE-SEM メーカー名 日本電子 型番 JSM-6500F 場所 MC012 GFC_装置番号 AP100234 / AP200034

ショットキー電界放出形電子顕微鏡 / FE-SEM メーカー名 日本電子 型番 JSM-7200F 場所 MC014 GFC_装置番号 AP-100294

フィールドエミッション電子プローブマイクロアナライザ / FE-EPMA メーカー名 日本電子 型番 JXA-8530F 場所 MC211 GFC_装置番号 AP100245 / AP200046

複合ビーム加工観察装置 / FIB-SEM メーカー名 日本電子 型番 JIB-4601F 場所 MC210 GFC_装置番号 AP100246 / AP200046

透過型電子顕微鏡 / TEM メーカー名 日本電子 型番 JEM-2010 場所 MC016 GFC_装置番号 AP100244 / AP200043

透過型電子顕微鏡 / TEM メーカー名 日本電子 型番 JEM-2010 場所 MC113 GFC_装置番号 AP100268

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分析装置群 (Analysys Equipments)

蛍光X線分析装置 / XRF メーカー名 日本電子 型番 JSX3100R 場所 MC211 GFC_装置番号 AP100269

粒子径分布測定装置 メーカー名 マイクロトラックベル 型番 JEM-2010 場所 MC211 GFC_装置番号 AP100267

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イオンミリング (Ion Milling Equipments)

クロスセクションポリッシャ/ CROSS SECTION POLISHER メーカー名 日本電子 型番 SM-09010 場所 MC012 GFC_装置番号 AP100270

イオンスライサー / ION SLICER メーカー名 日本電子 型番 EM-09100IS 場所 MC113 GFC_装置番号 AP100271

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前後処理装置 (Processing Equipments)

熱間樹脂包埋装置/ HOT MOUNTING PRESS メーカー名 丸本ストルアス 型番   場所 MC020

炭素蒸着装置 / Vaccum Deposition メーカー名 日本電子 型番 JEE-400 場所 MC020

イオンスパッタ装置 / Ion Sputtering Equipment メーカー名 日本電子 型番 JFC-1100E 場所 MC020

小型精密切断機 / Small Cutter メーカー名 MARUTO 型番 MC-501 場所 MC020

鏡面研磨機 メーカー名 鏡面研磨機 型番   場所 MC020

Pick Up System メーカー名 PickUpSystem 型番   場所 MC211

Pick Up System(大気非暴露) メーカー名   型番   場所 MC020

データ解析用PC (EPMA, EBSD, 3D-image) メーカー名   型番   場所 MC211