研究設備一覧

装置紹介

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電子顕微鏡装置 (Analysys Equipments)

ショットキー電界放出形電子顕微鏡 / FE-SEM メーカー名 　日本電子 型番 　JSM-6500F 場所 　MC012 GFC_装置番号 　AP100234 / AP200034

ショットキー電界放出形電子顕微鏡 / FE-SEM メーカー名 　日本電子 型番 　JSM-7200F 場所 　MC014 GFC_装置番号 　AP-100294

フィールドエミッション電子プローブマイクロアナライザ / FE-EPMA メーカー名 　日本電子 型番 　JXA-8530F 場所 　MC211 GFC_装置番号 　AP100245 / AP200046

複合ビーム加工観察装置 / FIB-SEM メーカー名 　日本電子 型番 　JIB-4601F 場所 　MC210 GFC_装置番号 　AP100246 / AP200046

透過型電子顕微鏡 / TEM メーカー名 　日本電子 型番 　JEM-2010 場所 　MC016 GFC_装置番号 　AP100244 / AP200043

透過型電子顕微鏡 / TEM メーカー名 　日本電子 型番 　JEM-2010 場所 　MC113 GFC_装置番号 　AP100268

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分析装置 (Analysys Equipments)

蛍光X線分析装置 / XRF メーカー名 　日本電子 型番 　JSX3100R 場所 　MC211 GFC_装置番号 　AP100269

粒子径分布測定装置 メーカー名 　マイクロトラックベル 型番 　JEM-2010 場所 　MC211 GFC_装置番号 　AP100267

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イオンミリング (Ion Milling Equipments)

クロスセクションポリッシャ/ CROSS SECTION POLISHER メーカー名 　日本電子 型番 　SM-09010 場所 　MC012 GFC_装置番号 　AP100270

イオンスライサー / ION SLICER メーカー名 　日本電子 型番 　EM-09100IS 場所 　MC113 GFC_装置番号 　AP100271

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前後処理装置 (Processing Equipments)

熱間樹脂包埋装置/ HOT MOUNTING PRESS メーカー名 　丸本ストルアス 型番   場所 　MC020

炭素蒸着装置 / Vaccum Deposition メーカー名 　日本電子 型番 　JEE-400 場所 　MC020

イオンスパッタ装置 / Ion Sputtering Equipment メーカー名 　日本電子 型番 　JFC-1100E 場所 　MC020

小型精密切断機 / Small Cutter メーカー名 　MARUTO 型番 　MC-501 場所 　MC020

鏡面研磨機 メーカー名 　MARUTO 型番   場所 　MC020

Pick Up System メーカー名 　MicroSupport 型番   場所 　MC211

Pick Up System(大気非暴露) メーカー名 　MicroSupport 型番   場所 　MC020

データ解析用PC (EPMA, EBSD, 3D-image) メーカー名   型番   場所 　MC211