装置紹介

電子顕微鏡装置群 (Analysys Equipments)

 ショットキー電界放出形電子顕微鏡 / FE-SEM
FE-SEM/JSM-6500F
メーカー名 日本電子
型番 JSM-6500F
場所 MC012
GFC_装置番号 AP100234 / AP200034
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  ショットキー電界放出形電子顕微鏡 / FE-SEM
 FE-SEM/ JSM-7200F
メーカー名 日本電子
型番 JSM-7200F
場所 MC014
GFC_装置番号 AP-100294
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 フィールドエミッション電子プローブマイクロアナライザ / FE-EPMA
FE-EPMA/ JXA-8530F
メーカー名 日本電子
型番 JXA-8530F
場所 MC211
GFC_装置番号 AP100245 / AP200046
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 複合ビーム加工観察装置 / FIB-SEM
FIB-SEM/ JIB-4601F
メーカー名 日本電子
型番 JIB-4601F
場所 MC210
GFC_装置番号 AP100246 / AP200046
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 透過型電子顕微鏡 / TEM
TEM(MC016)
メーカー名 日本電子
型番 JEM-2010
場所 MC016
GFC_装置番号 AP100244 / AP200043
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 透過型電子顕微鏡 / TEM
TEM(MC113)/ JEM2010
メーカー名 日本電子
型番 JEM-2010
場所 MC113
GFC_装置番号 AP100268
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分析装置群 (Analysys Equipments)

 蛍光X線分析装置 / XRF
XRF
メーカー名 日本電子
型番 JSX3100R
場所 MC211
GFC_装置番号 AP100269
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 粒子径分布測定装置
メーカー名 マイクロトラックベル
型番 JEM-2010
場所 MC211
GFC_装置番号 AP100267
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イオンミリング (Ion Milling Equipments)

 クロスセクションポリッシャ/ CROSS SECTION POLISHER
CP
メーカー名 日本電子
型番 SM-09010
場所 MC012
GFC_装置番号 AP100270
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 イオンスライサー / ION SLICER
メーカー名 日本電子
型番 EM-09100IS
場所 MC113
GFC_装置番号 AP100271
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前後処理装置 (Processing Equipments)

 熱間樹脂包埋装置/ HOT MOUNTING PRESS
HMP
メーカー名 丸本ストルアス
型番  
場所 MC020
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 炭素蒸着装置 / Vaccum Deposition
メーカー名 日本電子
型番 JEE-400
場所 MC020
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 イオンスパッタ装置 / Ion Sputtering Equipment
HMP
メーカー名 日本電子
型番 JFC-1100E
場所 MC020
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 小型精密切断機 / Small Cutter
メーカー名 MARUTO
型番 MC-501
場所 MC020
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 鏡面研磨機
HMP
メーカー名 鏡面研磨機
型番  
場所 MC020
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 Pick Up System
メーカー名 PickUpSystem
型番  
場所 MC211
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 Pick Up System(大気非暴露)
HMP
メーカー名  
型番  
場所 MC020
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 データ解析用PC (EPMA, EBSD, 3D-image)
メーカー名  
型番  
場所 MC211
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