概要 FE-EPMA, FIB-SEM用 …
Hot Mounting Presses
概要 走査電子顕微鏡やEPMAなどの試料 …
Ion Sputtering Device
概要 走査電子顕微鏡などの非導電性試料へ …
Vacuum Deposition Equipment
概要 走査電子顕微鏡などの非導伝性材試料 …
Micro Pickup System (Unexposed to Air)
概要 微小物サンプリング用マイクロマニピ …
Micro Pickup System
概要 微小物サンプリング用マイクロマニピ …
Ion Slicer
概要 Arイオンビームを照射し電子顕微鏡 …
XRF
概要 試料にX線を照射し、そこから発生す …
TEM (MC-016)
概要 薄膜や粉末の試料に電子線をあて、透 …
FE-SEM (MC-012)
概要 物質の表面に細く絞った電子線を照射 …