コンテンツへスキップ (Enter を押す)
nma.eng.hokudai.ac.jp/

nma.eng.hokudai.ac.jp/

Just another WordPress site

    • トップページ / Home
    • おしらせ / Information
    • 電子顕微鏡 / Electron Microscope
      • FE-EPMA
      • FIB-SEM
      • FE-SEM(MC012)
      • FE-SEM(MC014)
      • TEM
    • 分析装置 / Analysis Equipment
      • XRF
      • 粒子径分布測定装置 / Particle size Analyzer
    • イオンミリング / Ion Milling
      • クロスセクション　ポリッシャ/ CROSS SECTION POLISHER
      • Ion Slicer
      • FIB-SEM
    • 前・後処理装置 / Pre-processing and Post-processing
      • 熱間樹脂包埋装置 / HOT MOUNTING PRESS
      • 蒸着装置 / VAPOR DEPOSITION APPARATUS
      • Ion Sputtering Device
      • 小型精密切断機 / SMALL PRECISION CUT-OFF MACHINE
      • 鏡面研磨機 / MIRROR POLISHING MACHINE
      • Micro Pickup System
      • Micro Pickup System (Unexposed to Air)
    • ご利用の流れ / HOW TO USE
      • 利用の手引き / User’s guide
  • メニュー項目
  • 施設の講習動画
nma.eng.hokudai.ac.jp/

nma.eng.hokudai.ac.jp/

Just another WordPress site

    • トップページ / Home
    • おしらせ / Information
    • 電子顕微鏡 / Electron Microscope
      • FE-EPMA
      • FIB-SEM
      • FE-SEM(MC012)
      • FE-SEM(MC014)
      • TEM
    • 分析装置 / Analysis Equipment
      • XRF
      • 粒子径分布測定装置 / Particle size Analyzer
    • イオンミリング / Ion Milling
      • クロスセクション　ポリッシャ/ CROSS SECTION POLISHER
      • Ion Slicer
      • FIB-SEM
    • 前・後処理装置 / Pre-processing and Post-processing
      • 熱間樹脂包埋装置 / HOT MOUNTING PRESS
      • 蒸着装置 / VAPOR DEPOSITION APPARATUS
      • Ion Sputtering Device
      • 小型精密切断機 / SMALL PRECISION CUT-OFF MACHINE
      • 鏡面研磨機 / MIRROR POLISHING MACHINE
      • Micro Pickup System
      • Micro Pickup System (Unexposed to Air)
    • ご利用の流れ / HOW TO USE
      • 利用の手引き / User’s guide
  • メニュー項目
  • 施設の講習動画

カテゴリー: イオンミリング

ホーム >

クロスセクション　ポリッシャ

28 10月,2014 iic-admin

概要 ブロードなAr+イオンビームと遮蔽 …

続きを読む

Ion Slicer

22 3月,2014 iic-admin

概要 Arイオンビームを照射し電子顕微鏡 …

続きを読む

FIB-SEM

17 3月,2014 iic-admin

概要 ショットキー形SEMとHigh P …

続きを読む

最近の投稿

  • 【研究実績】当施設利用者の論文が「Thin Solid Films」に掲載されました。 2023年3月14日
  • TEM(MC113)のフィラメント交換 2023年1月14日
  • TEM(MC016)のEDS利用停止 2022年12月26日
  • TEM(MC016)の復旧および下のカメラについて 2022年12月14日
  • レンタルSEMの反射電子検出器の利用停止(12/9～) 2022年12月12日

Copyright © 2014-2022 北海道大学大学院工学研究院共同利用施設 ナノ・マイクロマテリアル分析研究室 All Rights Reserved. Education Zone | Developed By Rara Theme. Powered by WordPress.